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仪器介绍
结构分析测试—长春应化所
发布时间:2016-12-01 15:44:47 | 浏览次数:


Thermo ESCALAB 250电子能谱仪

技术指标:

单色化的XPS:空间分辨率200um,能量分辨率<0.5eV,灵敏度180,000。UPS:能量分辨率100meV,强度1,000,000cps。

应用范围:

化学元素定性、定量分析,有机官能团定性、定量分析、无机物表面、有机物表面、聚合物表面组成测定。固体表面的吸附作用,载体对催化剂性质的影响,多相催化剂的活性,多相催化剂的衰老和中毒。元素的价态、无机、有机化合物、高分子化合物结构。含氮化合物状态分析、含硫化合物状态分析、含碳化合物状态分析、含磷化合物状态分析,其它污染元素或状态分析。

 

X-射线CCD单晶衍射仪

技术指标:

Mo靶,最大功率2.4 kW; 三轴测角仪,测样平台为固定c = 54.74°, w/2q 最小步长0.0001°;Video 成像,视频显微镜放大倍数30-110倍;CCD探测器有效面积62mm´62mm, 量子效率170电子/X光子,分辨率15m,读出时间0.16秒。

应用范围:

用于单晶结构分析,不仅能研究单个分子的结构,而且能研究分子间的相互作用及晶体空间堆积。广泛应用于无机、有机化合物,金属配合物,药物等中小分子的结构研究。衍射仪配备先进的CCD面探测器,其突出特点是高灵敏度、高分辨率和低噪音。为了增加光源强度,用单管透镜代替准直管,对于Mo靶,光强度可增加50%,有利于获得更多可观察反射点,更准确地测定结构。仪器配备低温装置,可进行低温状态下(室温至-138°C)的晶体结构分析。先进的SHELXTL软件包能快速完成晶体结构解析,分子及晶胞的图形显示,生成供发表的晶体学信息文件。

 

D8 ADVANCE X-射线衍射仪

技术特点:

仪器采用铜靶作为光源,经过三狭缝准直系统采用点探测器对入射光进行校准。以一维万特探测器采集数据,极大地提高了样品的衍射强度和测试精度。适用于高强度或快速数据采集、过程控制、变温和化学反应测量、微观结构的动态变化、微量相分析等。水平样品台适用于液体、大样品、松散粉末、微量样品、熔融样品的测试。仪器配备真空水平样品热台,适用于变温实验中熔融流动样品的测试,可在线进行动态变温实验。(变温系统: 室温≥1400℃)

 应用范围:

   (XRD)研究微观结构和形态特征的一种技术和手段。适用小于1nm范围内结构定量信息的测定。可应用于物质的物相鉴定、结晶结构分析、定量分析、线型分析、以及科研和生产所需要的其它特殊研究。已广泛地应用于化学、化工、药物、环保、材料(高分子材料、纤维材料、合金材料、液晶、薄膜)结构定性定量信息的测定。

 

XL-30场发射扫描电子显微镜

技术指标:

本电镜配有SE检测器、BSE检测器、EDAX能谱仪。二次电子分辨率:30KV  3nm,1KV  5nm;EDS分辨率:129ev;分析元素范围B~U。

应用范围:

XL-30场发射扫描电镜可以对各种干燥无挥发的固态样品的形貌、纳米级形貌、粒径大小进行观察和分析;对金属核壳结构、矿石、岩石中的金属元素、稀土元素分布,金属在非金属样品中的分布都有非常清晰直观的效果图;同时配备的能谱仪附件不仅可以对所观察的样品进行元素定性、定量分析,还可以做出元素在样品形貌上的面分布和线分布。

 

Tecnai G2 F20 S-TWIN 场发射透射电子显微镜

主要技术指标:

点分辨率:0.24nm

信息分辨率:0.14nm

放大倍数:25~1030K

最高加速电压:200KV

样品最大倾角:±40°

应用范围:

Tecnai G2 F20 S-TWIN 是由FEI公司开发的多功能、多用户环境的200KV场发射透射电子显微镜。它将各种透射电镜技术(包括TEM、SAD、STEM、EDX等)方便灵活地有机组合,形成强大的分析功能。

高性能的透射电子成像、扫描透射成像,用于观察研究材料结构并对样品进行纳米尺度的微分析。如:高分辨电子显微观察,选区电子衍射,能谱分析,Z-衬度(原子序数)成像,元素的线、面分布等。

 

 
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